Visszaszórt-elektron diffrakció (EBSD)

A visszaszórt elektron-diffrakció (EBSD, electron backscatter diffraction) egy mikroszerkezet-vizsgálati módszer, mellyel kristályos vagy polikristályos anyagok szemcséi tanulmányozhatók. Az elektronnyalábbal pontszerűen besugárzott mintáról visszaszóródó elektronok a helyi kristályszerkezetre jellemző diffrakciós mintázatot adnak, melyből az alapvető kristálytani jellemzők (a kristálytani rendszer, rácsállandók, orientáció) meghatározhatók. Ezek alapján az anyag homogenitására, a szemcsehatárokra, hibahelyekre, a fellépő feszültségekre vonatkozó további tulajdonságok számolhatók. Az elektronsugarat pásztázva mindezek a jellemzők térképszerűen is megjeleníthetők. A módszer leggyakoribb megvalósítási formája a pásztázó elektronmikroszkópra szerelt EBSD detektor, a kiértékeléshez szükséges számítógépes és szoftveres háttérrel.

A Bruker Nano új fejlesztése a QUANTAX CrystAlign EBSD rendszer. Mivel nagy szakértelmet igénylő és igencsak összetett mérési módszerről van szó, a tervezők nagy hangsúlyt fektettek az egyszerű használhatóságra. A rendszer mindazt a sokféle mérési lehetőséget nyújtja, mint versenytársai, de kezelése végig intuitív. A QUANTAX CrystAlign szoftveresen együttműködik a mikroszkópra szerelt QUANTAX EDX detektorral, így az elemi összetétel is egyidejűleg meghatározható.

Főbb jellemzők:

• A függőlegesen állítható eFlash detektor kényelmes mérést biztosít a minta méretétől függetlenül
• Rendkívül gyors diffrakciós képalkotás: 620 kép/s (160×120 pont), 880 kép/s (80×60 pont)
• Felhasználói hibák ellen védett: LED jelzi a detektor pozícióját
• Teljesen szoftver-vezérelt detektor, integrált elektronikával
• A lehető leggyorsabb párhuzamos EBSD és EDX analízis
• Könnyen használható EBSD szoftver, egyetlen felhasználói felület
• Gyors újraindexelés: 40.000 pont/s
• Signal Assistant és Calibration Assistant segíti a beállítást
• A pásztázott terület tetszőlegesen választható

További információ és prospektus a gyártó honlapján