‹ VÁLTÁS NORMÁL NÉZETRE
Auroscience

Professzionális laborberendezések, mikroszkópok forgalmazása

Visszaszórt-elektron diffrakció (EBSD)

Bruker QUANTAX

Megosztás:

deformációszónákvasmeteoritban

A visszaszórt elektron-diffrakció (EBSD, electron backscatter diffraction) egy mikroszerkezet-vizsgálati módszer, mellyel kristályos vagy polikristályos anyagok szemcséi tanulmányozhatók. Az elektronnyalábbal pontszerűen besugárzott mintáról visszaszóródó elektronok a helyi kristályszerkezetre jellemző diffrakciós mintázatot adnak, melyből az alapvető kristálytani jellemzők (a kristálytani rendszer, rácsállandók, orientáció) meghatározhatók. Ezek alapján az anyag homogenitására, a szemcsehatárokra, hibahelyekre, a fellépő feszültségekre vonatkozó további tulajdonságok számolhatók. Az elektronsugarat pásztázva mindezek a jellemzők térképszerűen is megjeleníthetők. A módszer leggyakoribb megvalósítási formája a pásztázó elektronmikroszkópra szerelt EBSD detektor, a kiértékeléshez szükséges számítógépes és szoftveres háttérrel.

A Bruker Nano új fejlesztése a QUANTAX CrystAlign EBSD rendszer. Mivel nagy szakértelmet igénylő és igencsak összetett mérési módszerről van szó, a tervezők nagy hangsúlyt fektettek az egyszerű használhatóságra. A rendszer mindazt a sokféle mérési lehetőséget nyújtja, mint versenytársai, de kezelése végig intuitív. A QUANTAX CrystAlign szoftveresen együttműködik a mikroszkópra szerelt QUANTAX EDX detektorral, így az elemi összetétel is egyidejűleg meghatározható.

Főbb jellemzők:

  • A függőlegesen állítható eFlash detektor kényelmes mérést biztosít a minta méretétől függetlenül
  • Rendkívül gyors diffrakciós képalkotás: 620 kép/s (160×120 pont), 880 kép/s (80×60 pont)
  • Felhasználói hibák ellen védett: LED jelzi a detektor pozícióját
  • Teljesen szoftver-vezérelt detektor, integrált elektronikával
  • A lehető leggyorsabb párhuzamos EBSD és EDX analízis
  • Könnyen használható EBSD szoftver, egyetlen felhasználói felület
  • Gyors újraindexelés: 40.000 pont/s
  • Signal Assistant és Calibration Assistant segíti a beállítást
  • A pásztázott terület tetszőlegesen választható

További információ, ajánlatkérés

Ha további kérdései lennének az oldalon található termékekkel kapcsolatban, vagy árajánlatot szeretne kérni, kérjük hívja kollégánkat az alábbi elérhetőségeken, vagy küldjön üzenetet űrlapunk segítségével!

Kertész Gábor
Kertész Gábor
Elektronmikroszkópok, analitika
Budapest

Tel: (20) 942 0030
Ajánlatkérés, üzenet
 
görgetés az oldal tetejére