‹ VÁLTÁS NORMÁL NÉZETRE
Auroscience

Professzionális laborberendezések, mikroszkópok forgalmazása

Nikon Eclipse LV-DAF dinamikus autofókusz rendszer

Megosztás:

A Nikon Eclipse LV-DAF egy dinamikus auto-fókusz rendszer-kiegészítés felső állású Eclipse LV félvezető vizsgáló mikroszkópok és OEM alkalmazások számára.

A sokoldalú Hybrid Auto-Focus rendszer egyesíti a rés kivetítéses és a kontraszt detektálásos auto fókusz rendszer előnyeit, ezzel biztosítva a széles fókusztartományt és a gyors követési képességet.

Főbb jellemzők:

  • Hybrid Auto-Focus rendszer egyesíti a kétféle auto-fókusz rendszert, a rés kivetítésest és a kontrasztdetektálást:
    • Rés kivetítéses rendszer egy rés képét vetíti a minta felületére és detektálja a visszavert fény eltolódását. Ez a rendszer abban az esetben előnyös, ha széles fókusztartományt kell használni.
    • A kontraszt detektálásos rendszer egy rács mintázat képét vetíti a mintára, majd detektálja a visszavert fény kontrasztját. Ez az auto-fókusz rendszer nagyobb pontosságot biztosít, mivel működését nem befolyásolja a minta felületének változása.
  • Kompatibilis a Nikon LV szériás mikroszkópjaival.
  • Lehetséges megvilágítási módok:
    • Áteső- és ráeső fényű megvilágítások
    • Világos látótér
    • Sötét látótér
    • DIC
  • Nikon szoftverfejlesztő kit (SDK) a rendszer integrációjához
  • LED fényforrás
  • Széles fókusztartomány

További információ, ajánlatkérés

Ha további kérdései lennének az oldalon található termékekkel kapcsolatban, vagy árajánlatot szeretne kérni, kérjük hívja kollégánkat az alábbi elérhetőségeken, vagy küldjön üzenetet űrlapunk segítségével!

Bende Zsolt mérnök üzletkötő
Bende Zsolt
mérnök üzletkötő
ipari optikai és röntgen képalkotás


Tel: (20) 430 8446
Ajánlatkérés, üzenet

Kapcsolódó termékek

 
 
görgetés az oldal tetejére