Inverz anyagtudományi mikroszkópok
Új fejlesztésű mikroszkópok nagyméretű anyagminták, alkatrészek, öntvények vizsgálatára. A vázszerkezet különösen stabil, a mintaasztal háromrétegű kopásálló bevonattal rendelkezik. Az optikai rendszer végtelenre korrigált. Számos bővítési lehetőséggel.
További információk
Gyártó | |
---|---|
Felhasználás |
Leírás
A Nikon Eclipse MA200 inverz mikroszkóp új kialakításával új színt visz az inverz anyagvizsgáló mikroszkópok piacára.
Az egyedülálló formának köszönhetően a hagyományos rendszerekhez képest kisebb a mikroszkóp helyigénye, illetve az előre hozott kezelőegységekkel javult az ergonómiája.
Főbb jellemzők:
- Az új kialakításnak köszönhetően zárt rendszert alkot, ezzel megakadályozva a por bejutását a fényutakba
- 12V 50W-os halogén megvilágítás, amely különleges kialakításának köszönhetően nagyobb fényintenzitást eredményez, mint a hagyományos 12V 100W-os halogén fényforrások
- CFI60 optikai rendszer
- Nagyítás: 10x – 1500x (CFI 10x okulár használatával)
- 25 mm átmérőjű látótér az új fejlesztésű T Plan EPI 1x objektívvel
- Pormentes, antisztatikus mikroszkóp test
- Áteső fényű megvilágítási módok:
- Világos látótér
- DIC
- Ráeső fényű megvilágítási módok:
- Világos látótér
- Sötét látótér
- Egyszerű polarizáció
- DIC
- Fluoreszcencia
- Intelligens objektív revolverfej és mikroszkóp váz a hatékonyabb digitális képalkotás érdekében
- A mikroszkóp frontján elhelyezett kezelőszervek
Az MA100N egy kompakt inverz mikroszkóp, amelyet bright field és egyszerű polarizációs vizsgálatokhoz fejlesztettek ki. A különféle iparágak gyártói és minőségbiztosítási részlegeinek kéréseire válaszul a Nikon kifejlesztette ezt az egyszerű, de tartós modellt, amely lehetővé teszi a nagy kontrasztú képek megfigyelését és rögzítését. Ezenkívül a nagy intenzitású LED megvilágítás csökkenti a lámpa gyakori cseréjének szükségességét.
Alkalmazási területek:
- Kohászat, Fémgyártás
- Öntöttvas nodularitás és pelyhek elemzése, Gabona méretezése
- Felületvizsgálat
- Antenna, távcső optika
- Telekommunikáció és elektronika
- Mobiltelefonok, borotvák és órák
Specifikáció:
Optika | CFI60/CFI60-2 system |
---|---|
A megfigyelt kép | fordított kép |
Megfigyelési mód | Brightfield és polarizáció (MA P/A egyszerű polarizáló/analizáló szettel) |
Fókuszálás | Focusing nosepiece (fixed stage), coaxial coarse/fine adjustment knob with 8.5-mm stroke (Coarse adjustment of 37.7mm per turn, fine adjustment of 0.2mm per turn) |
Revolverfej | Brightfield 5-position nosepiece |
Tárgyasztal | MA-SR-N Rectangular 3-plate Stage N:50×50 mm stroke (includes two stage inserts (ø20mm and 40mm opening) and coaxial control handle on the right side The 3-plate design allows entire top surface to move. Optional Stage inserts: MA-SRSH1 Specimen Holder 1 with (ø15mm opening or MA-SH3 Specimen Holder 3 with 2mm to 32mm adjustable opening MA-SP-N Plain Stage N: 188×310mm – Includes two stage inserts (1) clear acrylic stage insert with ø30mm opening, (2) clear acrylic stage insert with crescent opening (width 30mm) to allow clearance for rotation of high magnification objectives Optional stage inserts: MA-SRSH1 Specimen Holder 1 with 15mm opening or MA-SH3 Specimen Holder 3 with 2mm to 32mm adjustable opening Accepts Attachable Mechanical Stage TI-SM TS2-S-SM Mechanical Stage: 126mm×78mm stroke, handle can be attached on the right or left side of the plain stage Optional Specimen Holders to fit Attachable Mechanical stage: MA-SH1-N Specimen Holder 1N (ø15mm opening) MA-SH2-N Specimen Holder 2N (ø30mm opening), or C-S-HU Universal Holder (30mm to 65mm adjustable opening) |
Fényforrás | Internal power supply white LED light source, condenser built-in (lever operated), ø25mm filter can be inserted |
Binokuláris test | Built-in Siedentopf binocular, 45 inclination angle and 50 to 75-mm interpupillary adjustment, attachable camera port, eyepiece/Port: 100/0:0/100 |
Energiafogyasztás (max.) | 15W |
Külső méretek | 229×551×404 mm (W×D×H) |
Súly | Approx. 10kg |