fbpx

Elektronmikroszkópia

Scios 2 DualBeam rendszer

A Scios ™ 2 DualBeam ™ egy rendkívül nagy felbontású analitikai FIB-SEM rendszer, mely kiemelkedő mintavételi előkészítést és 3D-s karakterisztikai teljesítményt nyújt a minták legszélesebb köre számára, ideértve a mágneses és nem vezető anyagokat is. Az átviteli sebesség, a pontosság és a könnyű használat fokozására tervezett, innovatív Scios 2 DualBeam ideális megoldás a tudósok és mérnökök igényeinek kielégítésére akadémiai-, kormányzati- és ipari kutatási környezetben egyaránt.

Leírás

Brossúra

Scios 2 DualBeam rendszer

Kapcsolat

$title

Kertész Gábor

Terméktámogató mérnök
Elektronmikroszkópia
+36209420030

Ajánlatkérés

    Go to Top