Nikon Eclipse FN1 felsőállású mikroszkóp

A kifejezetten elektrofiziológiai kutatásokhoz kifejlesztett Eclipse FN1 javított működőképességet biztosít a patch-clamp kísérletek megkönnyítése érdekében. Az FN1 által nyújtott előnyök között szerepel a karcsú test, az áramvonalas felépítés, a jobb elektródaelhelyezés, a nagy munkatávolság és a nagyobb zajcsökkentés. A minta mélyebb területei is tisztán láthatók az infravörös (IR) fény segítségével.