FénymikroszkópiaFénymikroszkópia

Kezdőlap » Termékek » Nikon Eclipse FN1 felsőállású mikroszkóp

Nikon Eclipse FN1 felsőállású mikroszkóp

A kifejezetten elektrofiziológiai kutatásokhoz kifejlesztett Eclipse FN1 javított működőképességet biztosít a patch-clamp kísérletek megkönnyítése érdekében.

További információk

Gyártó

Felhasználás

, ,

Leírás

A kifejezetten elektrofiziológiai kutatásokhoz kifejlesztett Eclipse FN1 javított működőképességet biztosít a patch-clamp kísérletek megkönnyítése érdekében. Az FN1 által nyújtott előnyök között szerepel a karcsú test, az áramvonalas felépítés, a jobb elektródaelhelyezés, a nagy munkatávolság és a nagyobb zajcsökkentés. A minta mélyebb területei is tisztán láthatók az infravörös (IR) fény segítségével.

Brossúra

Nikon Eclipse FN1 felsőállású mikroszkóp

Kapcsolat

$title

Stamm Attila

Terméktámogató mérnök
Mikroszkópia
+36202650852
$title

Dr Kun András

Üzletágvezető
Képalkotás üzletág
+36 20 342 7807
$title

Sidó Orsolya

Kereskedelmi asszisztens, közbeszerzési referens
Közbeszerzések
+36 1 242 1390

Ajánlatkérés

    Ez is érdekelheti

    Kapcsolódó termékek

    Go to Top