Inverz anyagtudományi mikroszkópok

Új fejlesztésű mikroszkópok nagyméretű anyagminták, alkatrészek, öntvények vizsgálatára. A vázszerkezet különösen stabil, a mintaasztal háromrétegű kopásálló bevonattal rendelkezik. Az optikai rendszer végtelenre korrigált. Számos bővítési lehetőséggel.

Additional information

Gyártó	Nikon Metrology
Felhasználás	Anyagszerkezet-vizsgálat, Ipari minőség-ellenőrzés

Nikon Eclipse MA200

A Nikon Eclipse MA200 inverz mikroszkóp új kialakításával új színt visz az inverz anyagvizsgáló mikroszkópok piacára.

Az egyedülálló formának köszönhetően a hagyományos rendszerekhez képest kisebb a mikroszkóp helyigénye, illetve az előre hozott kezelőegységekkel javult az ergonómiája.

Főbb jellemzők:

Az új kialakításnak köszönhetően zárt rendszert alkot, ezzel megakadályozva a por bejutását a fényutakba
12V 50W-os halogén megvilágítás, amely különleges kialakításának köszönhetően nagyobb fényintenzitást eredményez, mint a hagyományos 12V 100W-os halogén fényforrások
CFI60 optikai rendszer
Nagyítás: 10x – 1500x (CFI 10x okulár használatával)
25 mm átmérőjű látótér az új fejlesztésű T Plan EPI 1x objektívvel
Pormentes, antisztatikus mikroszkóp test
Áteső fényű megvilágítási módok:
- Világos látótér
- DIC
Ráeső fényű megvilágítási módok:
- Világos látótér
- Sötét látótér
- Egyszerű polarizáció
- DIC
- Fluoreszcencia
Intelligens objektív revolverfej és mikroszkóp váz a hatékonyabb digitális képalkotás érdekében
A mikroszkóp frontján elhelyezett kezelőszervek

Nikon Eclipse MA100N

Az MA100N egy kompakt inverz mikroszkóp, amelyet bright field és egyszerű polarizációs vizsgálatokhoz fejlesztettek ki. A különféle iparágak gyártói és minőségbiztosítási részlegeinek kéréseire válaszul a Nikon kifejlesztette ezt az egyszerű, de tartós modellt, amely lehetővé teszi a nagy kontrasztú képek megfigyelését és rögzítését. Ezenkívül a nagy intenzitású LED megvilágítás csökkenti a lámpa gyakori cseréjének szükségességét.

Alkalmazási területek:

Kohászat, Fémgyártás
Öntöttvas nodularitás és pelyhek elemzése, Gabona méretezése
Felületvizsgálat
Antenna, távcső optika
Telekommunikáció és elektronika
Mobiltelefonok, borotvák és órák

Specifikáció:

Optika	CFI60/CFI60-2 system
A megfigyelt kép	fordított kép
Megfigyelési mód	Brightﬁeld és polarizáció (MA P/A egyszerű polarizáló/analizáló szettel)
Fókuszálás	Focusing nosepiece (ﬁxed stage), coaxial coarse/ﬁne adjustment knob with 8.5-mm stroke (Coarse adjustment of 37.7mm per turn, ﬁne adjustment of 0.2mm per turn)
Revolverfej	Brightﬁeld 5-position nosepiece
Tárgyasztal	MA-SR-N Rectangular 3-plate Stage N:50×50 mm stroke (includes two stage inserts (ø20mm and 40mm opening) and coaxial control handle on the right side The 3-plate design allows entire top surface to move. Optional Stage inserts: MA-SRSH1 Specimen Holder 1 with (ø15mm opening or MA-SH3 Specimen Holder 3 with 2mm to 32mm adjustable opening MA-SP-N Plain Stage N: 188×310mm – Includes two stage inserts (1) clear acrylic stage insert with ø30mm opening, (2) clear acrylic stage insert with crescent opening (width 30mm) to allow clearance for rotation of high magniﬁcation objectives Optional stage inserts: MA-SRSH1 Specimen Holder 1 with 15mm opening or MA-SH3 Specimen Holder 3 with 2mm to 32mm adjustable opening Accepts Attachable Mechanical Stage TI-SM TS2-S-SM Mechanical Stage: 126mm×78mm stroke, handle can be attached on the right or left side of the plain stage Optional Specimen Holders to ﬁt Attachable Mechanical stage: MA-SH1-N Specimen Holder 1N (ø15mm opening) MA-SH2-N Specimen Holder 2N (ø30mm opening), or C-S-HU Universal Holder (30mm to 65mm adjustable opening)
Fényforrás	Internal power supply white LED light source, condenser built-in (lever operated), ø25mm ﬁlter can be inserted
Binokuláris test	Built-in Siedentopf binocular, 45 inclination angle and 50 to 75-mm interpupillary adjustment, attachable camera port, eyepiece/Port: 100/0:0/100
Energiafogyasztás (max.)	15W
Külső méretek	229×551×404 mm (W×D×H)
Súly	Approx. 10kg

Brossúra