fbpx

Ipari megoldások

BW interferometrikus mikroszkópok

A Nikon szabadalmaztatott szkennelés típusú optikai interferenciájának mérési technológiája eléri az 1 pikométer (pm) felbontást. A Nikon különféle optikai mikroszkópokat kínál mérőrendszerekként, melyek a mérési felhasználás széles skálájához alkalmazhatók.

Leírás

Brossúra

BW interferometrikus mikroszkópok

Kapcsolat

$title

Stamm Attila

Terméktámogató mérnök
Mikroszkópia
+36202650852
$title

Szállási Bence

mérnök-üzletkötő
Ipari megoldások
+36 20 430 8446

Ajánlatkérés

    Go to Top