Scios 2 DualBeam rendszer

A Scios 2 DualBeam a következőket nyújtja:

• Jó minőségű, helyspecifikus, TEM és Atom szonda minták gyors és egyszerű elkészítése a Sidewinder HT ion oszlop segítségével.
• Rendkívül nagy felbontású képalkotás NICol elektronoszlop segítségével, az osztály legjobb teljesítményével a mintavétel legszélesebb tartományában. Ideértve a mágneses és nem vezető anyagokat is.
• A legteljesebb mintavételi információ éles, kifinomult és töltésmentes kontraszttal, különféle beépített oszlopközi- és lencse alatti érzékelőkkel.
• Hozzáférés a kiváló minőségű, multimodális felszíni és 3D információkhoz, az opcionális Auto Slice & View ™ 4 (AS & V4) szoftver segítségével.
• Egyedi alkalmazási igényekhez igazított precíz minta navigáció a 110 mm-es mintaasztal és a kamrában lévő Nav-Cam rendszer nagy rugalmasságának köszönhetően.
• Artifaktumok nélküli képalkotás és mintázat készítés olyan dedikált módokkal, mint a SmartScan ™, DCFI és a Drift Suppression.
• A rugalmas DualBeam konfigurációnak köszönhetően optimalizálja a rendszert a meghatározott alkalmazási követelményeknek megfelelően.

A jó minőségű TEM minták gyors és egyszerű elkészítése:

• A Scios 2 DualBeam legújabb technológiai újításai, a legegyszerűbben használható, legátfogóbb AutoTEM ™ 4 szoftverrel (opcionális) és a Thermo Fisher Scientific alkalmazástechnikai tapasztalataival kombinálva lehetővé teszik a helyspecifikus HR-S / TEM alkalmazását az anyagok széles spektrumához.
• A kiváló minőségű eredmények elérése érdekében végső polírozás szükséges alacsony energiaszintű ionokkal, hogy a minta felületi károsodása minimálisra csökkenjen.
• A Sidewinder HT fókuszált ioncsalád (FIB) oszlop nem csak nagyfelbontású képalkotást és marást biztosít nagy feszültségszinten, hanem megfelelő megoldást kínál alacsony feszültségű alkalmazásokban, lehetővé téve a jó minőségű TEM lamellák létrehozását.