Nikon NIS-Elements szoftver mikroszkópokhoz

A Nikon NIS-Elements platform egy olyan befektetés, amely a folyamatosan változó protokollokat, új technológiákat és rendszerkomponenseket célozza meg. A NIS-Elements frissíthetőségével, valamint az oktatás és a navigáció egyszerűségével olyan erőforrást hoz létre, amely könnyen továbbadható laboratóriumok és kutatások későbbi generációinak.

Description

Metrológiai alkalmazások:

Szűrő részecskeelemzés

Szűrők tisztaságának elemzése a nemzetközi szabványok szerint:

  • ISO 16232
  • ISO 4406
Szemcseméret

A szemcseméret kimutatása és mérése a szabványoknak megfelelően:

  • ASTM E112-13 (2013)
  • ASTM E1382-97 (2015)
  • ISO 643 (2012)
  • JIS G 0551 (2013)
  • GB/T 6394 (2017)
Öntöttvas

Az öntöttvas minőség-ellenőrzése a szabványoknak megfelelően:

  • ISO 945-1 (2006)
  • ASTM A247-06 (2006)
  • JIS G5502 (2007)
Beton

A megszilárdult beton légüres térjellemzőinek mérése a szabvány szerint:

  • EN 480-11:2006 E
Hegesztési mérés

Különböző típusú hegesztési varratok számítógépes mérése.

Rétegvastagság

Rétegmérés, beleértve a kalotesztet is.

EDF – Kiterjesztett mélységélesség

3D objektumok rögzítése teljesen fókuszált 2D képekké, beleértve a magassági térképet is.

HDR – High dynamic range

HDR / Nagy dinamikatartományú képek rögzítése és létrehozása.

Brossúra

Nikon NIS-Elements szoftver mikroszkópokhoz

Kapcsolat

$title

Stamm Attila

Terméktámogató mérnök
Mikroszkópia
+36202650852
$title

Szállási Bence

mérnök-üzletkötő
Ipari megoldások
+36 20 430 8446

Ajánlatkérés