N-SIM E szuperrezolúciós mikroszkóp
Az N-SIM E egy korszerű, megfizethető szuper-felbontású rendszer, amely a hagyományos fénymikroszkópok kétszeres felbontását biztosítja.
További információk
Gyártó | |
---|---|
Felhasználás | Biotechnológia, Gyógyszeripar, Klinikai felhasználás, Mikrobiológia |
Leírás
Az N-SIM E egy korszerű, megfizethető szuper-felbontású rendszer, amely a hagyományos fénymikroszkópok kétszeres felbontását biztosítja. Az N-SIM E és egy konfokális mikroszkóp ötvözésével lehetőség nyílik arra, hogy kiválasszunk egy helyet a konfokális képen, majd egyszerűen átváltsunk szuperrezolúciós módba, így vizsgálva a kép további részleteit.
Az N-SIM E a Nikon innovatív megközelítését használja a „strukturált megvilágítási mikroszkópia” terén. Ha párosítja ezt az erős technológiát a Nikon híres objektíveivel (NA-val 1,49), az N-SIM E majdnem megduplázza a hagyományos fénymikroszkópok térbeli felbontását körülbelül 115 nm-re *, és lehetővé teszi az apró sejten belüli struktúrák és kölcsönhatásaik részletes megjelenítését.
- Laterális felbontás: 115 nm*1 in 3D-SIM mode
- Axiális felbontás: 269 nm*1 in 3D-SIM mode
- Képalkotási mód: 3D-SIM
- Kompatibilis lézer: LU-NV sorozat lézer egysége (488 nm, 561 nm, 640 nm)
- Kompatibilis mikroszkóp: Eclipse Ti2-E motoris inverz mikroszkóp
- Objektív:
- CFI SR HP Apochromat TIRF 100XC Oil (NA 1.49)
- CFI SR HP Apochromat TIRF 100XAC Oil (NA 1.49)
- CFI SR Plan Apochromat IR 60XC WI (NA 1.27)
- CFI SR Plan Apochromat IR 60XAC WI (NA 1.27)
- CFI Plan Apochromat Lambda 60XC (NA 0.95)*2
- CFI Plan Apochromat Lambda 40XC (NA 0.95)*
- Kamera: ORCA-Flash 4.0 sCMOS camera (Hamamatsu Photonics K.K.)
- Szoftver: NIS-Elements Ar; NIS-Elements C