BW interferometrikus mikroszkópok

A Nikon szabadalmaztatott szkennelés típusú optikai interferenciájának mérési technológiája eléri az 1 pikométer (pm) magasság felbontást. A Nikon különféle optikai mikroszkópokat kínál mérőrendszerekként, melyek a mérési felhasználás széles skálájához alkalmazhatók.

A BW sorozat tagjai (BW-S500, BW-D500) gyorsan és pontosan megmérik a felületi profilt a szubnanotól a milliméteres magasságig egyetlen mérési mód használatával. Továbbá teljes mértékben támogatják a nagy pontosságú feldolgozási technológiát és az anyagtudományi terület fejlesztéseit.