Ipari megoldások

Kezdőlap » Termékek » BW interferometrikus mikroszkópok

BW interferometrikus mikroszkópok

A Nikon szabadalmaztatott szkennelés típusú optikai interferenciájának mérési technológiája eléri az 1 pikométer (pm) felbontást. A Nikon különféle optikai mikroszkópokat kínál mérőrendszerekként, melyek a mérési felhasználás széles skálájához alkalmazhatók.

Leírás

A Nikon szabadalmaztatott szkennelés típusú optikai interferenciájának mérési technológiája eléri az 1 pikométer (pm) magasság felbontást. A Nikon különféle optikai mikroszkópokat kínál mérőrendszerekként, melyek a mérési felhasználás széles skálájához alkalmazhatók.

A BW sorozat tagjai (BW-S500, BW-D500) gyorsan és pontosan megmérik a felületi profilt a szubnanotól a milliméteres magasságig egyetlen mérési mód használatával. Továbbá teljes mértékben támogatják a nagy pontosságú feldolgozási technológiát és az anyagtudományi terület fejlesztéseit.

Brossúra

BW interferometrikus mikroszkópok

Kapcsolat

$title

Stamm Attila

Terméktámogató mérnök
Mikroszkópia
+36202650852
$title

Szállási Bence

mérnök-üzletkötő
Ipari megoldások
+36 20 430 8446

Ajánlatkérés

    Ez is érdekelheti

    Kapcsolódó termékek

    Go to Top