Ipari megoldások

Kezdőlap » Termékek » Nikon X.Tract rétegvizsgáló szoftver

Nikon X.Tract rétegvizsgáló szoftver

A Nikon X.Tract szoftvere a CT eljáráshoz hasonló vizsgálatot tesz lehetővé rendkívül összetett, többrétegű áramköri lapok esetében.

Leírás

A program rendkívül gyorsan és felhasználóbarát módon segít a virtuális metszetek elkészítésében a tér minden irányában, attól függően, hogy hol szeretnénk vizsgálódni. Többrétegű tárgyak esetében az X.Tract olyan hibákat is képes feltárni, amelyeket hagyományos 2D röntgenképeken nem lennénk képesek. A rendszernek hála kis és nagyméretű NyÁK-ok is könnyedén vizsgálhatók. Az X.Tract elérhető az XT V 160-as röntgengéphez.

  • összetett alkatrészek vizsgálathatók vele, mint BGA, PoP, CSP, QFN, LGA
  • nehezen felderíthető HiP (fej-a-párnán) jelenségeknél, forrasztási hibáknál, töréseknél
  • zárványok elemzéséhez
  • átmenő furatos alkatrészek, konnektorok és viák vizuális megjelenítése és hibák elemzése
  • alkatrészek elhelyezésének, áramköri lapok vetemedésének vizsgálata

Brossúra

Nikon X.Tract rétegvizsgáló szoftver

Kapcsolat

$title

Stamm Attila

Terméktámogató mérnök
Mikroszkópia
+36202650852
$title

Szállási Bence

mérnök-üzletkötő
Ipari megoldások
+36 20 430 8446

Ajánlatkérés

    Ez is érdekelheti

    Kapcsolódó termékek

    Go to Top