Eclipse L200N sorozat – IC vizsgáló mikroszkópok

CFI60 optikát tartalmaz a 200 mm-es ostyák és maszkok hibátlan ellenőrzéséhez.
A Nikon kiváló CFI60 LU / L optikai rendszerével és egy rendkívüli új megvilágítási rendszerrel kombinálva ez a mikroszkóp nagyobb kontrasztú, nagy felbontású képeket és háromszor fényesebb darkfield képeket biztosít, mint korábban. Önállóan vagy ostyatöltőkkel kombinálva az L200 sorozat kivételesen pontos optikai ellenőrzést végez az ostyák, fotómaszkok, retikulumok és egyéb hordozók felett.

Description

Brossúra

Eclipse L200N sorozat - IC vizsgáló mikroszkópok

Kapcsolat

$title

Stamm Attila

Terméktámogató mérnök
Mikroszkópia
+36202650852
$title

Szállási Bence

mérnök-üzletkötő
Ipari megoldások
+36 20 430 8446

Ajánlatkérés