Nikon X.Tract rétegvizsgáló szoftver

A Nikon X.Tract szoftvere a CT eljáráshoz hasonló vizsgálatot tesz lehetővé rendkívül összetett, többrétegű áramköri lapok esetében.

Description

Brossúra

Nikon X.Tract rétegvizsgáló szoftver

Kapcsolat

$title

Stamm Attila

Terméktámogató mérnök
Mikroszkópia
+36202650852
$title

Szállási Bence

mérnök-üzletkötő
Ipari megoldások
+36 20 430 8446

Ajánlatkérés