Nikon X.Tract rétegvizsgáló szoftver
A Nikon X.Tract szoftvere a CT eljáráshoz hasonló vizsgálatot tesz lehetővé rendkívül összetett, többrétegű áramköri lapok esetében.
További információk
Gyártó | |
---|---|
Felhasználás | Akkumulátor alkatrészek vizsgálata, Anyagszerkezet-vizsgálat, Autóalkatrész-gyártás, Ipari minőség-ellenőrzés |
Leírás
A program rendkívül gyorsan és felhasználóbarát módon segít a virtuális metszetek elkészítésében a tér minden irányában, attól függően, hogy hol szeretnénk vizsgálódni. Többrétegű tárgyak esetében az X.Tract olyan hibákat is képes feltárni, amelyeket hagyományos 2D röntgenképeken nem lennénk képesek. A rendszernek hála kis és nagyméretű NyÁK-ok is könnyedén vizsgálhatók. Az X.Tract elérhető az XT V 160-as röntgengéphez.
- összetett alkatrészek vizsgálathatók vele, mint BGA, PoP, CSP, QFN, LGA
- nehezen felderíthető HiP (fej-a-párnán) jelenségeknél, forrasztási hibáknál, töréseknél
- zárványok elemzéséhez
- átmenő furatos alkatrészek, konnektorok és viák vizuális megjelenítése és hibák elemzése
- alkatrészek elhelyezésének, áramköri lapok vetemedésének vizsgálata